高压加速老化试验箱(HAST)适用于半导体芯片行业以及航空、航天、兵器、船舶、核工业、科研院校等领域。通过对电子部品、元器件、集成电路以及材料、工艺等通过加速进行高温、高湿、高压循环及恒定试验测试来确认其是否因耐久性(寿命)或环境变化而导致功能失效。
高压加速老化试验箱主要测试环境包含THB(主要的测试条件是温度为85℃/相对湿度为85%/规定电压）、PCT（通常指100%相对湿度的饱和蒸汽测试）、HAST（通常指相对湿度为85%的非饱和蒸汽测试）。
随着社会发展进步，我们生产生活中需要使用的电子设备、电子产品越来越频繁，对其质量品质的要求越来越高（如重量、寿命、安全、外形等）；这意味着生产商在选择原材料及电子元件时需提出更高质量需求。以半导体模具为塑料材料为例：
试验条件①在温度为 85 ℃，湿度为85% 85% 的测试条件下，寿命周期超过500小时。
②在温度为121 ℃，湿度为100% 的测试条件下，寿命周期超过数十小时。
在满足上述条件的情况下：推测试件在温度为30℃和相对湿度为85%的通常使用环境下，使用寿命应超过10年。
综上所述，可以对零件和材料做防潮性能测试，来检查由湿度所造成的裂变或者失效，通过加速寿命测试来检查试件防潮性能。高压加速老化试验箱可以加速暴露产品在研发、生产过程中的不良或缺陷，以便更好地完善产品的各项性能指标。
设计为滑动托盘:
①样品托盘安置于工作仓的外部，放置样品时可在仓外完成而不必把手放进炉腔里面操作，这样可减小操作人员烧伤的危险。
②在工作仓外面完成老化测试的配线工作，操作便捷、工作效率高、安全系数大。
