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电子元器件老化测试目的

 更新时间:2023-02-08 点击量:385

    在电子产品在加工过程中,由于经历了复杂的加工和元器件物料的大量使用,无论是加工缺陷还是元器件缺陷,都可分为明显缺陷和潜在缺陷,明显缺陷指那些导致产品不能正常工作的缺陷,例如短路/断路。

    而潜在缺陷导致产品暂时可以使用,但在使用中缺陷会很快暴露出来,产品不能正常工作。潜在缺陷则无法用常规检验手段发现,而是运用老化的方法来剔除。

    如果老化方法效果不好,则未被剔除的潜在缺陷将最终在产品运行期间以早期失效(或故障)的形式表现出来,从而导致产品返修率上升,维修成本增加。

 

一、概念

  老化(Burn in)是指在一定的环境温度下、较长的时间内对元器件连续施加环境应力,而环境应力筛选(ESS:Environment Stress Screen )则不仅包括高温应力,还包括其他很多应力,例如温度循环、随机振动等,通过电-热应力的综合作用来加速元器件内部的各种物理、化学反应过程,促使隐藏于元器件内部的各种潜在缺陷及早暴露,从而达到剔除早期失效产品的目的。

老化是属于环境应力筛选的一种。


二、作用

 1.对于工艺制造过程中可能存在的一系列缺陷,如表面沾污、引线焊接不良、沟道漏电、硅片裂纹、氧化层缺陷和局部发热点等都有较好的筛选效果。

 2.对于无缺陷的元器件,老化也可促使其电参数稳定。


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