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电子产品的可靠性试验分类(二)

 更新时间:2023-12-21 点击量:168

电子产品的可靠性试验分类(二)


(4)低气压试验

试验目的:考核产品对低气压工作环境(如高空工作环境)的适应能力。当气压减小时空气或绝缘材料的绝缘强度会减弱;易产生电晕放电、介质损耗增加、电离;气压减小使散热条件变差,会使元器件温度上升。这些因素都会使被试样品在低气压条件下丧失规定的功能,有时会产生永*性损伤。

试验条件:被试样品置于密封室内,加规定的的电压,从密封室降低气压前20min直至试验结束的一段时间内,要求样品温度保持在25+-1.0℃的范围。密封室从常压降低到规定的气压再恢复到常压,并监视这‘过程中被试样品能否正常工作,微电路被试样品所施加电压的频率在直流到20MHz的范围内,电压引出端出现电晕放电被视为失效。试验的低气压值是与海拔高度相对应的,并分若干档.如微电路低气压试验的A档气压值是58kPa,对应高度是4572m,E档气压值是1.1kPa,对应高度是30480m等等。


(5)耐湿试验

试验目的:以施加加速应力的方法评定微电路在潮湿和炎热条件下抗衰变的能力,是针对典型的热带气候环境设计的。微电路在潮湿和炎热条件下衰变的主要机理是由化学过程产生的腐蚀和由水汽的浸入、凝露、结冰引起微裂缝增大的物理过程。试验也考核在潮湿和炎热条件下构成微电路材料发生或加剧电解的可能性,电解会使绝缘材料电阻宰发生变化,使抗介质击穿的能力变弱。

试验条件:潮热试验有两种,即文变潮热试验和恒定潮热试验。交受潮热试验要求被试样品在相对湿度为90%~100%的范围内,用一定的时间(‘般2.5h)使温度从25℃上升到65℃,井保持3h以上;然后再在相对湿度为80%一100%的范围内,用一定的时间(—般2.5 h)使温度从6s℃下降到25℃,再进行一次这样的循环后再在任意湿度的情况下将温度下降到一10 c,并保持3h以上‘再恢复到温度为25℃,相对湿度等于或大于80%的状态。这就完成了一次文变潮热的大循环,大约需要24h。

一般一次耐湿试验,上述交变潮热的大循环要进行10次.试验时被试样品要施加—定的电压。试验箱内每分钟的换气量要求大于试验箱容积的5倍。被试样品应该是经受过非破坏性引线牢固性试验的样品。


(6)盐雾试验

试验目的:以加速的方法评定元器件外露部分在盐雾、潮湿和炎热条件下抗腐蚀的能力,是针对热带海边或海上气候环境设计的.表面结构状态差的元器件在盐雾、湘湿和炎热条件下外露部分会产生腐蚀。

试验条件:盐雾试验要求被试样品上不同方位的外露部分都要在温度、湿度及接收的盐淀积速率等方面处于相同的规定条件。这一要求是通过样品在试验箱内放置的相互间的最小距离和样品的放置角度来满足的。

试验温度:一般要求为(35+-3)'C、在24h内盐淀积速率为2X104mg/m2~5X104mg/m2。盐淀积速率和湿度是通过产生盐雾的盐溶液的温度、浓度及流经它的气流决定的,气流中氧气和氮气比份要与空气相同。

试验时间:一般分为24h、48h、96h和240h等。


(7)辐照试验

试验目的:考核微电路在高能粒子辐照环境下的工作能力。高能粒子进入微电路会使微观结构发生变化产生缺陷或产生附加电荷或电流。从而导致微电路参数退化、发生锁定、电路翻转或产生浪涌电流引起烧毁失效。辐照超过某一界限会使微电路产生永*性损伤。

试验条件:微电路的辐照试验主要有中子辐照和γ射线辐照两大类。又分总剂量辐照试验和剂量率辐照试验。剂量率辐照试验都是以脉冲的形式对披试微电路进行辐照的。在试验中要依据不同的微电路和不同的试验目的严格控制辐照的剂量串和总剂量。否则会由于辐照超过界限而损坏样品或得不到要寻求的闽值。辐照试验要有防止人体损伤的安全措施。


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