元器件是整机的基础，它在制造过程中可能会由于本身固有的缺陷或制造工艺的控制不当，在使用中形成与时间或应力有关的失效。
作用一：高温贮存
电子元器件的失效大多数是由于体内和表面的各种物理化学变化所引起，它们与温度有密切的关系。
在高温贮存操作温度升高以后，电子元件的化学反应速度大大加快，失效过程也得到加速，使得有缺陷的元器件能及时暴露，予以剔除。
高温筛选在半导体器件上被广泛采用，它能有效地剔除具有表面沽污、键合不良、氧化层有缺陷等失效机理的器件。
通过高温贮存以后还可以使元器件的参数性能稳定下来，减少使用中的参数漂移。
作用二：功率电老炼
热电应力的共同作用能很好地暴露元器件体内和表面的多种潜在缺陷，它是可靠性筛选的重要项目。
各种电子元器件通常在额定功率条件下老炼，有些产品不能随便改变条件但可以采用高温工作方式来提高工作结温，达到高应力状态。
作用三：温度循环
电子产品在使用过程中会遇到不同的环境温度条件，在热胀冷缩的应力作用下，热匹配性能差的元器件就容易失效。
高低温试验箱所执行的温度循环筛选利用了ji端高温和ji端低温间的热胀冷缩应力，能有效的剔除有热性能缺陷的产品。
