高温储存测试是筛选电子元器件的一种有效方法。通过在最高结温下储存电子元器件24至168小时，加速化学反应，使有缺陷的元件及时暴露出来，加以淘汰。这种方法简单易行，能够有效地稳定元器件的参数性能，减少使用中的参数漂移。
1.温度循环测试
温度循环测试利用高温和低温之间的热胀冷缩应力，有效剔除具有热性能缺陷的产品。常用的元器件筛选条件为-55至125℃，进行5至10个循环。这种测试可以模拟电子产品在使用过程中遇到的不同环境温度条件，对于热匹配性能差的元件，温度循环测试可以有效地暴露其缺陷。
2.湿热测试
湿热测试是模拟高湿度环境对电子元件影响的测试，能够评估材料在潮湿环境中的耐湿性能，以及产品在湿热条件下的化学变化或物理损伤，确保产品在实际应用中的可靠性。
3.筛选元件的必要性
电子元器件的固有可靠性取决于产品的可靠性设计。在制造过程中，由于人为因素或原材料、工艺条件、设备条件的波动，最终的成品并不能全部达到预期的固有可靠性。实验室恒温恒湿试验箱进行的筛选测试，可以排除在使用条件下可能出现初始故障的元器件，确保整批元器件的可靠性，满足整机的要求。
4.环境可靠性试验的最*选择
5.恒温恒湿试验箱的重要性
在电子电器元件、自动化零部件、通讯元件、汽车零部件、金属、化工材料、塑料等行业，通过专业的恒温恒湿试验箱，针对BGA、PCB基板扳手、电子芯片IC、半导体陶瓷磁性和高分子材料等进行测试，检测材料耐受高低温的能力，以及观察产品于热胀冷缩过程中产生的化学变化或物理损伤，能够精准判定产品质量。
