一、产品用途 三箱气体式电子芯片冷热测试冲击试验箱 三箱气体式电子芯片冷热测试冲击试验箱
温度冲击试验箱又叫冷热冲击试验箱，它广泛用于电工、电子产品整机及零部件进行耐寒试验、温度快速变化或渐变条件下的适应性试验，特别适用于进行电工、电子产品的环境应力筛选（ESS）试验。
二、产品规格（mm）
1.型号WDCJ-50 工作室尺寸D×W×H 320×350×450 外形尺寸D×W×H 1500×1600×2020
2.型号WDCJ-100 工作室尺寸D×W×H400×500×500 外形尺寸D×W×H 1500×1700×2020
3.型号WDCJ-150 工作室尺寸D×W×H500×500×600 外形尺寸D×W×H 1600×1700×2100
4.型号WDCJ-225 工作室尺寸D×W×H750×600×500 外形尺寸D×W×H 2000×1800×2100
5.型号WDCJ-250 工作室尺寸D×W×H700×650×550 外形尺寸D×W×H 2000×2000×2100
6.型号WDCJ-500 工作室尺寸D×W×H800×800×800 外形尺寸D×W×H 2500×2500×2100
7.型号WDCJ-010 工作室尺寸D×W×H1000×1000×1000外形尺寸D×W×H 3500×3500×2200
8.型号WDCJ-015 工作室尺寸D×W×H1500×1000×1000外形尺寸D×W×H 4200×3800×3800
三、技术参数
1.温度冲击范围：0℃～150℃（A）,-20℃～150℃（B）、-40℃～150℃(C)、-60℃～150℃(D)；
2.温度范围：-20℃～200℃（A）、-40℃～200℃(B)、-60℃～200℃(C)、 -70℃～200℃(D)
3.试验区：①温度波动度±0.5℃（温度恒定后），②温度偏差≤3℃；
4.高低温区：温度波动度≤±2.0℃；
5.升温速率：1.0～3.0℃/min；
6.降温速率：0.7～1.0℃/min；
7.温度转换时间：≤5s（样品从高温区到低温区或从低温区到高温区）；
8.温度恢复时间：≤5min
9.温度转换方式：气动风门切换，换气式，做静态运行。
10.电源电压：AC380±10%V 50Hz
四、箱体结构
1．试验箱结构形式：采用整体组合结构式，采用此方式箱体占地面积小、结构紧凑、外形美观，制冷机组置于独立的机组箱体内，以减少制冷机组运行时的震动、噪声对试验箱的影响，同时便于机组的安装和维修，电器控制面板置于试验箱的右侧板上以便于运行操作
2．箱体外壁材料：冷轧钢板，表面静电喷塑处理；
3．箱体内壁材料：不锈钢板（SUS304）；
4．保温材料：耐高温防火硬质聚胺酯发泡或耐高温防火*细纤维玻璃保温棉；
5．试验箱门：配有双硅胶密封及密封条加热装置，设有自限温加热带，防止试验时凝露和结霜；
6．样品架：网状式不锈钢样品架；
7．电缆测试孔： 在样品架的上部与高温试验箱体顶部设置有滑动式电缆穿线管
